10.3969/j.issn.1000-6281.2000.04.040
硅基多孔氧化铝薄膜的解理断裂特性
@@ 近年来,人工制备量子点、量子线等纳米结构材料引起了广泛关注.通常的制备方法有电子束刻蚀、离子束刻蚀、X射线刻蚀、电子全息成像刻蚀等.这类方法所能达到的最低尺度为≥10nm[1].而阳极氧化多孔氧化铝的最小孔径可达1nm[2],其特征参数如孔径(1~300nm)、孔长(10~300nm)及孔密度(108~1011cm-2)都可以用选择不同腐蚀电压的方法来加以控制,而且孔的长度直径比可达1000以上,所以,作为模板,多孔氧化铝薄膜在纳米材料制备方面有其独到之处.但是,多孔氧化铝薄膜容易卷曲、断裂,这一缺点影响它在纳米工业中的应用.本文利用电镜研究阳极氧化硅基多孔氧化铝薄膜的断裂解理特性,以期为制备高质量的多孔氧化铝模板提供有价值的线索.
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TB3(工程材料学)
国家自然科学基金59832100;国家攀登计划
2006-09-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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