10.3969/j.issn.1000-6281.2000.04.014
负载型Ni-B/SiO2催化剂硫中毒显微结构与表面结构的研究
@@ 用化学还原法制备的负载型Ni-B/SiO2催化剂对于石油制品的加氢和加氢脱硫反应具有良好的催化活性和选择性[1],然而,困扰该类催化剂严重的问题之一是硫中毒[2].本工作将透射电镜(TEM)、高分辨电镜(HREM)和X射线光电子谱(XPS)等技术结合起来,研究了新鲜和硫中毒后的负载型Ni-B/SiO2催化剂的显微结构和表面结构特征.
负载型、类催化剂、硫中毒、显微结构、加氢脱硫反应、面结构特征、高分辨电镜、透射电镜、石油制品、技术结合、化学还原、光电子谱、催化活性、中毒后、选择性、射线、困扰、法制
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TB3(工程材料学)
2006-09-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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