10.3969/j.issn.1000-6281.1999.05.004
养分胁迫条件下石斛兰叶片表面结构的电镜观察
本文运用扫描电镜(SEM)技术,对石斛兰在养分胁迫条件下叶片的表面结构作了扫描观察.发现当养分胁迫时,叶表面角质层花纹发生改变,叶片气孔形状,数量均受养分营养状况的制约.缺S时叶片角质层被剥蚀,缺K时叶片表面有结晶状物质.
石斛兰、叶片表面结构、电镜观察
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Q949.71+8.43;Q942;Q336(植物学)
华南热带农业大学校科研和教改项目
2004-03-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
503-506