10.3969/j.issn.1000-6281.1998.06.015
Link-OPAL系统中断口解理面取向的电子背散射衍射测定方法
本文介绍一种利用Link-OPAL系统电子背散射衍射(EBSD)技术对多晶体材料脆性解理刻面晶体学位向测定的方法.对多晶Al67Mn8Ti25金属间化合物室温脆性解理断口的实验测定表明,其刻面取向统计结果与解理能理论计算结果相符.
电子背散射衍射、解理刻面、Ll2结构Al3Ti、电子显微术
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O346.1;O721;O76;O766.1(固体力学)
中国科学院资助项目59471003
2004-03-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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