10.3969/j.issn.1000-6281.1998.05.015
用EDS测量薄膜的厚度及其元素的深度分布
@@ 在扫描电子显微观察的同时,用EDS测量薄膜的厚度及其元素的深度分布[1,2]简便可行.
测量、薄膜、厚度、元素、显微观察、深度分布、扫描电子
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TQ32
2004-03-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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测量、薄膜、厚度、元素、显微观察、深度分布、扫描电子
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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