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10.3969/j.issn.1000-6281.1998.05.015

用EDS测量薄膜的厚度及其元素的深度分布

引用
@@ 在扫描电子显微观察的同时,用EDS测量薄膜的厚度及其元素的深度分布[1,2]简便可行.

测量、薄膜、厚度、元素、显微观察、深度分布、扫描电子

17

TQ32

2004-03-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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电子显微学报

1000-6281

11-2295/TN

17

1998,17(5)

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