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10.3969/j.issn.1000-6281.1998.02.001

双晶位向测定的新方法

引用
双晶的轴/角对是重合位置点阵的特征参数.双晶间两对平行方向的测定是获得轴/角对的基础.本文介绍了利用系统倾转技术测定特征参数的方法,其避免了菊池极法的局限性.

技术测定、新方法、特征参数、重合位置点阵、局限性、系统、平行、晶间、基础

17

O7(晶体学)

2004-03-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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1000-6281

11-2295/TN

17

1998,17(2)

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