基于模拟IC测试的任意波形发生器设计与实现

摘要：

面向模拟IC自动测试仪设计并实现了一种由FPGA控制的任意波形发生器.设计采用闭环控制的方法,保证任意波形发生器输出信号的高精度.任意波形发生器波形数据存储深度最大可达128 MB,采样精度为16位,最高采样率可达到160 MHz,输出信号频率为1 Hz～1 MHz,峰峰值范围为20 mV～20 V,幅度偏置范围为+2.5 V,精度可达到±0.1 dB.实际测试表明该设计满足模拟IC测试仪的项目要求.

关键词：模拟IC测试仪、任意波形发生、数模转换器、FPGA

所属期刊栏目：22

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2014-04-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：85-88