基于LFSR优化的BIST低功耗设计

摘要：

在BIST(内建自测试)过程中,线性反馈移位寄存器作为测试矢量生成器,为保障故障覆盖率,会产生很长的测试矢量,从而消耗了大量功耗.在分析BIST结构和功耗模型的基础上,针对test-per-scan和test-per-clock两大BIST类型,介绍了几种基于LFSR(线性反馈移位寄存器)优化的低功耗BIST测试方法,设计和改进可测性设计电路,研究合理的测试策略和测试矢量生成技术,实现测试低功耗要求.

关键词：内建自测试、线性反馈移位寄存器、测试矢量生成、低功耗、可测性设计

所属期刊栏目：17

分类号：TN710.9(基本电子电路)

在线出版日期：2009-04-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：61-63