射频集成电路校准技术综述
射频集成电路(RFICs)对工艺偏差、器件失配、器件非线性等引入的静态非理想因素以及温度变化、增益改变、输入/输出频率变动等引入的动态非理想因素所表现出的鲁棒性较差.该文深入挖掘影响射频集成电路性能的关键因素,并对典型的校准算法进行归纳和总结,为高性能射频集成电路设计提供理论支撑.
射频集成电路、校准技术、射频收发链路、频率综合器、多片同步
44
TN43(微电子学、集成电路(IC))
国家自然科学基金;湖南省自然科学基金项目
2022-11-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共17页
4058-4074