基于65 nm 工艺的多端口可配置 PUF 电路设计

摘要：

物理不可克隆函数(Physical Unclonable Function, PUF)电路利用结构完全相同的电路在制造过程中存在的随机工艺偏差，产生具有唯一性、随机性和不可克隆性的密钥。该文通过对共源共栅电流镜的研究，提出一种基于电流镜工艺偏差的多端口可配置 PUF 电路。该 PUF 电路由输入寄存器、偏差电压源、复用网络、判决器阵列和扰乱模块构成，通过激励信号配置偏差电压源，无需更换硬件便可实现输出密钥的变化，且可在一个时钟周期内输出多位密钥。在 SMIC 65 nm CMOS 工艺下，采用全定制方式设计具有36个输出端口的 PUF 电路，版图面积为24.8μm×77.4μm。实验结果表明，该 PUF 电路具有良好的唯一性和随机性，且工作在不同温度(-40~125°C)和电压(1.08~1.32 V)下的可靠性均大于97.4%，可应用于信息安全领域。

关键词：电路设计、物理不可克隆函数、多端口、可配置

所属期刊栏目：38

分类号：TP331(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金61474068,61274132;浙江省自然科学基金LQ14F040001;浙江省教育厅项目Y201430798Foundation Items:The National Natural Science Foundation of China61474068,61274132;The Natural Science Foundation of Zhejiang ProviceLQ14F040001;The Project of Department of Education of Zhejiang ProviceY201430798

在线出版日期：2016-07-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：1541-1546