一种SRAM型FPGA抗软错误物理设计方法

摘要：

针对SRAM(Static Random Access Memory)型FPGA单粒子翻转引起软错误的问题,该文分析了单粒子单位翻转和多位翻转对布线资源的影响,提出了可以减缓软错误的物理设计方法.通过引入布线资源错误发生概率评价布线资源的软错误,并与故障传播概率结合计算系统失效率,驱动布局布线过程.实验结果表明,该方法在不增加额外资源的情况下,可以降低系统软错误率约18%,还可以有效减缓多位翻转对系统的影响.

关键词：现场可编程门阵列、布局布线、软错误、单粒子翻转、多位翻转

分类号：TP332(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2013-05-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：994-1000