采用字典词条衍生模式的测试数据压缩

摘要：

为了降低数字集成电路测试成本,压缩预先计算的测试集是一种有效的解决途径.该文根据索引位数远少于字典词条,以及测试数据中存在大量无关位,提出一种采用词条衍生和二级编码的字典压缩方案.该方案引入循环移位操作,确保无关位按序任意移动而不丢失,从而扩大词条衍生性能,减少非词条向量个数.另外,采用规则的两级编码可以减少码字数量和解压电路的复杂度.实验结果表明该文所提方案能够进一步提高测试数据压缩率,减少测试时间.

关键词：集成电路、测试数据压缩、字典压缩方案、循环移位

所属期刊栏目：34

分类号：TP391.76;TN407(计算技术、计算机技术)

资助基金：教育部博士点基金200803590006;安徽省海外高层次人才基金2008Z014;安徽省高校省级自然科学研究基金KJ2010A280,KJ2010B428资助课题

在线出版日期：2012-04-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：231-235