考虑工艺波动影响的RLC互连统计延时

摘要：

该文提出了一种考虑工艺波动的统计RLC互连延时分析方法.文中首先给出了考虑工艺波动的寄生参数和矩的构建方法,然后基于Weibull分布给出了RLC互连的统计延时模型.所提方法同样适用于已有的延时模型如Elmore模型,等效Elmore模型和D2M模型.通过对几种模型的比较,表明,基于Weibull分布的RLC互连的统计延时模型是最精确的,和HSPICE相比,50%延时误差最大0.11%,蒙特卡洛分析中的均值和平均偏差误差最大2.02%.

关键词：集成电路、工艺波动、RLC互连延时、统计模型、Weibull分布

所属期刊栏目：31

分类号：TN405.97(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金60606006;国家杰出青年基金60725415;重点实验室基金9140C030102060C0303资助课题

在线出版日期：2010-01-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：2767-2771