基于蚂蚁算法和遗传算法的时序电路测试生成

摘要：

为提高时序电路的测试生成效率,该文提出一种新的基于蚂蚁算法和遗传算法的时序电路测试矢量生成算法.针对国际标准时序电路的实验结果表明,该交叉算法既充分发挥了两种算法的优点,又克服了各自的缺点,与其它同类测试生成算法相比,获得了较好的故障覆盖率和测试集.说明采用蚂蚁算法和遗传算法的交叉算法是成功的.

关键词：时序电路、测试生成、蚂蚁算法、遗传算法

所属期刊栏目：27

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金60266001

在线出版日期：2005-08-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1157-1161