投影追踪方法在高光谱图像异常点检测中的应用

摘要：

该文提出了一种基于投影追踪的高光谱图像异常点检测方法.它通过广义似然比检验(GLRT)模型构建二元检测算子,并利用观测数据估计出算子中代表背景的未知参数,而算子的关键参数-目标参数是通过投影追踪算法搜索异常点得到的.此算法消除了传统的基于多元统计模型的目标检测方法对先验信息的依赖,增强了算法的实用性.同时,投影追踪方法能有效的提取目标参数,进一步提高了异常点检测的效果.

关键词：高光谱、投影追踪、广义似然比检验、异常检测

所属期刊栏目：26

分类号：TP391.41(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2004-12-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：1474-1479