模拟集成电路的测试节点选择

摘要：

如何寻求一个最佳的测试节点或测试矢量集是模拟集成电路的故障诊断中的重要问题.该文提出了一种基于可测性测度计算:的测试节点选择方法.利用行列式判决图,可以有效而准确地求得被测电路传输函数的符号表达式和计算出其可测性测度.该方法完全消除了由数字方法引入的不可避免的舍入误差,并能处理中、大规模的集成电路.

关键词：可测性测度、行列式判决图、模拟集成电路

所属期刊栏目：26

分类号：TN431.1(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2004-07-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：645-650