基于电路状态信息和冲突分析的部分扫描设计
该文提出了一种割断关键回路的方法来选择扫描触发器.该方法在选择一定数量的扫描触发器后,采用逻辑模拟更新电路的状态信息,这样可以得到更为精确的可测试性信息.当电路中的关键回路割断后,转向消除冲突的处理,而不是降低时序深度.该方法致力于消除冲突,并使用了一种基于冲突分析的测度conflict.足够的实验结果表明该方法是非常有效的.
有效状态、部分扫描设计、无效状态、冲突、测度
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TN307(半导体技术)
国家自然科学基金69773030;面向21世纪教育振兴行动计划985计划
2004-04-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共7页
124-130