VLSI冗余单元最优分配的遗传算法求解

摘要：

随着VLSI芯片面积的增加和电路复杂性的增强,芯片的成品率受制造缺陷影响的概率逐渐增加.为了解决这一问题,人们将容错技术结合入集成电路设计中.要使一个系统具有较强的容错能力,必须给系统提供一定量冗余单元.本文利用遗传算法有效地解决了使系统成品率达到最大的冗余单元最优分配问题.

关键词：遗传算法、成品率、备用单元、容错能力

所属期刊栏目：23

分类号：TN47;TN911.72(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家部级科研项目;国家高技术研究发展计划863计划

在线出版日期：2003-11-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：96-99