基于光探针的超高速波形数字化测试系统的应用
介绍了基于光探针的超高速波形数字化系统的结构.采用倍频移相扫描法测量了高速集成电路芯片各级的功能.分析了芯片故障产生的原因和光探针测量的特点.
光探针、电光采样、集成电路芯片
22
TN43;TN29(微电子学、集成电路(IC))
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
346-349
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光探针、电光采样、集成电路芯片
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TN43;TN29(微电子学、集成电路(IC))
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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