多次压氦法和预充氦压氦法质谱细检漏方法研究

摘要：

密封电子元器件在长时间存放后,会存在无法检测的现象.当超过密封件细漏检测的最长候检时间时,应再次压氦,然后进行细检漏.按现行的各种规范的规定,压氦法和预充氦法再压氦的条件、程序和判据一般均与首次压氦相同,但分析表明,这样可能会使测量漏率判据出现成倍或更大的偏差,有时会出现大漏的漏检和细漏的错判.推演出多次压氦法和预充氦压氦法的测量漏率判据公式,给出了相应的压氦条件和细检漏的最长候检时间,从而更为便捷准确地解决了长候检时间下的密封性检测问题.

关键词：氦质谱细检漏、多次压氦法、预充氦压氦法、测量漏率判据、压氦时长、最长候检时间

所属期刊栏目：9

分类号：TB42(工业通用技术与设备)

在线出版日期：2014-03-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：105-110