10.3969/j.issn.1673-5692.2014.01.016
斜向探测电离图描迹提取算法研究
电离层斜向探测工作在高频段,密集的外部干扰如短波通信,广播电台以及大气噪声等污染了接收数据,严重影响斜向探测电离图描迹的提取.针对上述问题,本文提出了一种提取斜向探测电离图描迹的算法.该算法由频域去干扰,有序统计量OS-CFAR检测,去虚警点三个步骤构成.对实测数据的处理结果表明这种方法的有效性和实用性.
斜向探测电离图、描迹提取、有序统计量检测
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TN011.2(一般性问题)
国家自然科学基金61032011,61331012,61302006
2014-03-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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