斜向探测电离图描迹提取算法研究

摘要：

电离层斜向探测工作在高频段,密集的外部干扰如短波通信,广播电台以及大气噪声等污染了接收数据,严重影响斜向探测电离图描迹的提取.针对上述问题,本文提出了一种提取斜向探测电离图描迹的算法.该算法由频域去干扰,有序统计量OS-CFAR检测,去虚警点三个步骤构成.对实测数据的处理结果表明这种方法的有效性和实用性.

关键词：斜向探测电离图、描迹提取、有序统计量检测

所属期刊栏目：9

分类号：TN011.2(一般性问题)

资助基金：国家自然科学基金61032011,61331012,61302006

在线出版日期：2014-03-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：85-88