基于三模冗余架构的集成电路加固设计

摘要：

随着科技的发展,人类对太空领域的研究会越来越多,对于航天器件的要求也会越来越高,其中可靠性是航天器件一个重要的指标.空间辐射环境中的高能粒子引发的单粒子翻转事件严重影响星载电子系统的可靠性.现有的抗辐照设计多集中在工艺库和版图的加固上,但是要完全的抑制单粒子故障的产生是不现实的.克服了现有技术中存在的不足,提供了一种基于三模冗余的电路架构,利用冗路架构去屏蔽已发生故障对整个电路的影响,使得整个电路的抗辐照性能得到极大地提升.

关键词：抗辐照、加固设计、单粒子翻转、三模冗余

所属期刊栏目：8

分类号：TN492(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家新品研制项目

在线出版日期：2014-02-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：643-646