基于65 nm体硅CMOS技术的DICE-DFF和TMR-DFF SEU辐射硬化方法分析

摘要：

基于65 nm体硅CMOS工艺,采用移位寄存器链方式对普通触发器(DFF)、2种双互锁触发器(DICE-DFF,FDICE-DFF)、普通触发器空间三模冗余(TMR-DFF)和2种普通触发器时间三模冗余(TTMR-DFF300,TTMR-DFF600)这6种结构进行单粒子翻转(SEU)性能试验评估.利用Ti、Cu、Br、I、Au和Bi这6种离子对被测电路进行轰击,试验结果表明,普通触发器单粒子翻转截面最大,约为3.5×10?8～1.7×10?7 cm2/bit;时钟间隔时间600 ps的时间三模冗余结构触发器单粒子翻转截面最小,约为5×10?11～7×10?10 cm2/bit,仅为普通触发器的0.1％左右.同时,针对6种触发器单元,从速度、面积、晶体管数量以及抗SEU性能多方面进行综合分析,为后续超大规模集成电路抗SEU设计提供了一定的指导意义.

关键词：翻转截面、触发器、双互锁触发器、单粒子翻转、三模冗余

所属期刊栏目：51

分类号：TN492(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2022-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：458-463