电子设备抵抗外界影响及破坏的技术
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1001-0548.2003.06.009

电子设备抵抗外界影响及破坏的技术

引用
讨论电子设备受迫振动被动隔振和无谐振隔振技术,提出了提高电子设备元器件及印制版的抗振动冲击的设计方法,对机械结构提出提高系统刚度的方法,针对降低局部应力集中的问题,提出用逆向预变形克服重力影响,文中所述方法对电子设备设计具有指导意义.

电子设备、无谐振、振动、冲击

32

TN607(电子元件、组件)

2004-04-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

628-631

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子科技大学学报

1001-0548

51-1207/T

32

2003,32(6)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn