10.3969/j.issn.1001-0548.1999.01.014
组合电路门时滞故障的可测性分析
根据门时滞故障测试的特点,定义了一种门时滞故障的可测性测度(即上升沿和下降沿门时滞故障的可控制性和可观测性),并提出了相应的计算方法,为基于门时滞故障的电路可测性设计提供了理论依据.
门时滞故障、可测性测度、可控制性、可观测性
28
TN407(微电子学、集成电路(IC))
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
58-61
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10.3969/j.issn.1001-0548.1999.01.014
门时滞故障、可测性测度、可控制性、可观测性
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TN407(微电子学、集成电路(IC))
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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