10.3969/j.issn.1008-5300.2015.02.013
BGA植球的实验研究与工艺方法
为了节约生产成本,保障生产进度,实现BGA器件的再次利用,文中开展了BGA植球工艺的研究.通过理论分析确立了BGA植球质量的4个关键因素:植球方式、助焊剂、植球钢片、回流温度曲线,并对4个因素进行了一系列对比工艺实验,根据实验结果确立了最佳的工艺参数,形成了较完善的植球工艺.重植球BGA的性能检测表明,重植球BGA芯片二次利用时能正常工作且性能稳定.验证实验结果证实了该植球工艺的可行性,可有效应用于BGA返修中.
BGA、植球、实验、工艺
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TN305.94(半导体技术)
2015-05-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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