综合电子系统重构时间分析方法研究

摘要：

针对综合电子系统重构的不确定性、多样性导致的系统状态复杂的问题,对不同重构模式下的重构时间进行分析.首先研究系统架构和软硬件配置,建立系统重构和重构时间模型,提出应用迁移优化算法.然后通过综合电子系统重构验证平台模拟故障,分析计算不同类型故障导致系统重构消耗的时间.实验证明,不同类型的故障导致的系统重构时间不同,优化重构蓝图和迁移过程可以有效缩短重构时间.

关键词：综合电子系统、重构、时间分析、系统验证

所属期刊栏目：48

分类号：TN702(基本电子电路)

在线出版日期：2022-06-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：110-113