基于Innovus工具的IR Drop自动化修复

摘要：

在先进工艺节点下,芯片电源网络的电阻增加和高密度的晶体管同时翻转会在VDD和VSS上产生电压降(IR Drop),导致芯片产生时序问题和功能性障碍.采用基于Innovus工具的三种 自动化IR Drop修复流程在PR(Placement and Route)阶段优化模块的动态 IR Drop.结果表明,Pegasus PG Fix Flow 和 IR-Aware Placement 这两种方法能分别修复设计的48％和33.8％的IR Drop违例,且不会恶化时序和DRC(Design Rule Check),而IR-Aware PG Strape Addition这种方法的优化力度相对较小,且会使DRC有较大程度的恶化.

关键词：芯片设计;Innovus工具;IR Drop修复

所属期刊栏目：47

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2021-08-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：43-47