10.16157/j.issn.0258-7998.200210
Flash存储器单粒子效应测试研究综述
随着Flash存储器在航天系统中的大量应用,其单粒子效应评价至关重要.首先综述了Flash存储器单粒子效应研究进展,总结出在重离子辐照实验中常见单粒子效应及其故障原因,包括由存储单元故障和外围电路故障造成的单粒子翻转、单粒子功能中断和单粒子闭锁.随后,归纳出常见单粒子效应的测试区分方法、测试算法和测试流程,为相关测试实验研究提供参考.
Flash存储器、单粒子效应、测试方法、辐照实验
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TN307(半导体技术)
装备领域预研基金;军用电子元器件科研项目
2020-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
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