星载65nm抗辐射GNSS接收机ASIC的SEFI实验方法

摘要：

在抗辐射GNSS接收机的研发过程中,由于Xilinx 600万门FPGA在轨单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)效应严重,而自主研发抗辐射GNSS接收机ASIC是最有效的解决办法.以航天五院重点型号项目“XX-2”项目为依托,在国内首次采用65 nm抗辐射工艺,用单个ASIC芯片实现了1 200万门规模的星载抗辐射GNSS接收机ASIC.但是,对此款新工艺/大规模/功能复杂的ASIC芯片进行单粒子功能中断测定是一个难题.通过在FPGA上模拟GNSS数字中频信号和DSP配置输入,然后由芯片的EMIF接口实时读取芯片内部关键数据来进行SEU/ SEFI的判断,并设计了SEFI判断准则和相应的辐照实验实现方案.

关键词：GNSS接收机、EMIF接口、辐照实验、单粒子功能中断(SEFI)

所属期刊栏目：43

分类号：TN492(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2017-02-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：53-56,59