多时钟域并行测试控制器的设计
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.16157/j.issn.0258-7998.2016.09.007

多时钟域并行测试控制器的设计

引用
采用了IEEE1149中TAP控制器的概念与IEEE1500 wrapper的概念相结合,设计出一款基于IEEE1500测试标准同时兼容IEEE 1149测试标准的测试控制器,并设计了满足不同时钟域同时并行配置通用寄存器的功能,可以节省多个时钟域串行配置寄存器的时间,提高了测试效率.结果中的verdi仿真图表明文章所设计的测试结构达到了预期.

IEEE1500标准、IEEE1149标准、TAP、wrapper、测试

42

TP368.1(计算技术、计算机技术)

2016-09-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

29-31,35

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子技术应用

0258-7998

11-2305/TN

42

2016,42(9)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn