基于自动建模的射频功率放大器的互连可靠性研究

摘要：

通过编程实现电路的自动建模及仿真，得到互连线的几何尺寸、电流密度及环境温度与 AFD 的关系，进而分析互连线的可靠性。从结果可知，温度升高、电流增大、尺寸减小等因素都会降低功率放大器互连线的可靠性。实际中，为了保证功率放大器的可靠性设计，在选择合适尺寸的晶体管和工作状态时，还需综合权衡输出功率、增益、效率等各方面指标。

关键词：射频功率放大器、电迁移、自动建模、原子通量散度、有限元分析

所属期刊栏目：42

分类号：TN406(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金项目2012ZX03004008；青海省国际合作项目2013-H-811，2014-HZ-821；天津大学-青海民族大学自主创新基金合作项目2015

在线出版日期：2016-06-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：39-42,48