基于IEEE1149.7标准的CJTAG测试设计方法研究

摘要：

在深入研究IEEE1149.7标准的基础上,针对测试问题设计了CJTAG测试控制器,实现了T0、T1、T3和T4层级的主要功能.对该控制器的各个功能进行了仿真验证.结果表明该控制器产生的测试信号符合IEEE1149.7标准的规定,能够控制待测芯片实现相应的测试功能,取得了较好的测试效果.

关键词：IEEE 1149.7、CJTAG、测试控制器、边界扫描

所属期刊栏目：39

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国防预研基金资助项目51323XXXXXX

在线出版日期：2013-06-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：79-82