泛华测控传感器测试系统再添新品——角位移传感器测试系统

摘要：

@@ 2009年2月,北京中科泛华测控技术有限公司在深耕传感器测试领域又推新品--角位移传感器测试系统.该系统主要用于磁感式角位移传感器的校准和终检测试.角位移传感器测试系统可在稳定的环境温度范围内,采用通讯方式获取DUT原始数据,并对DUT进行校准和编程,最后测量DUT的输出信号并进行验证测试.

机标关键词：测控传感器、测试系统、角位移传感器、传感器测试、原始数据、有限公司、验证测试、校准、温度范围、通讯方式、输出信号、测控技术、稳定、深耕、环境、测量、编程、北京

所属期刊栏目：35

分类号：TP2;TH8

在线出版日期：2009-05-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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