10.3969/j.issn.0258-7998.2006.12.021
提高TMS320LF2407A内部A/D采样精度和范围的方法
一种提高TMS320LF2407A内部A/D采样精度和采样范围的方法.该方法解决了内部A/D的采样幅值为0~3.3V的瓶颈,并采用TMS320LF2407A内部A/D的两个独立的模拟转换通道的排序器SEQ1和SEQ2对采样对象进行分离,在不影响采样速率的情况下提高A/D的采样精度.
数字信号处理器、TMS320LF2407A、数据采集
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TP3(计算技术、计算机技术)
2006-12-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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