10.3969/j.issn.0258-7998.2006.09.037
基于边界扫描技术的数字系统测试研究
介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、边界扫描测试原理以及利用边界扫描技术控制IC芯片处于特定功能模式的方法.针对IC芯片某种特定的功能模式给出了设计思路和方法,并用两块xc9572 pc84芯片互连的PCB板为例进行设计分析和实验实现.通过实验实现,体现了边界扫描技术易于电路系统调试和方便系统设计的特点,且设计的系统控制逻辑简单方便,易于实现.
边界扫描测试、IEEE1149.1标准(JTAG标准)、可测性设计、集成电路
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TP3(计算技术、计算机技术)
2006-10-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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107-110