基于边界扫描技术的数字系统测试研究

摘要：

介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、边界扫描测试原理以及利用边界扫描技术控制IC芯片处于特定功能模式的方法.针对IC芯片某种特定的功能模式给出了设计思路和方法,并用两块xc9572 pc84芯片互连的PCB板为例进行设计分析和实验实现.通过实验实现,体现了边界扫描技术易于电路系统调试和方便系统设计的特点,且设计的系统控制逻辑简单方便,易于实现.

关键词：边界扫描测试、IEEE1149.1标准(JTAG标准)、可测性设计、集成电路

所属期刊栏目：32

分类号：TP3(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2006-10-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：107-110