数字集成电路测试系统的研制

摘要：

介绍了基于向量测试法的测试系统的原理、结构组成以及各功能模块的工作过程。本系统是有关技术人员在总结多年的实际测试经验并参考国外同类测试系统的基础上开发成功的,生产成本较低、性能可靠,是一种适合于国内半导体行业的实际生产情况的测试系统。

关键词：集成电路、测试系统、测试向量调制、精密测量单元(PMU)、待测器件(DUT)、时序产生器(TG)、图形发生器(PG)

所属期刊栏目：27

分类号：TP27(自动化技术及设备)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：42-44