Fly-Back原边控制芯片中负电流的影响和防护

摘要：

首先阐述了在Fly-Back原边控制芯片中负电压和负电流的产生机理,以及芯片内部寄生双极晶体管对负电流的连锁反应机理,并以NPN带隙基准电压源为例分析了负电流对芯片可能造成的影响,最后提出了一系列在芯片内部可以采取的防护措施.

关键词：Fly-Back、原边控制、负电流

所属期刊栏目：47

分类号：TN433(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2018-03-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：18-20