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10.3969/j.issn.1004-4507.2016.01.003

光刻机调平调焦台精度指标分解方法研究

引用
为了提高光刻机调平调焦台的重复定位精度,对其调平调焦台的精度指标分解开展研究.首先,应用几何关系,建立调平调焦总指标与逻辑轴之间的关系;再应用运动学原理,建立调平调焦台通用机构的逻辑轴和物理轴之间的运动关系;接着,应用函数误差原理,建立调平调焦台的精度指标分解模型.然后,采用压电陶瓷作为驱动、柔性簧片作为导向、压电陶瓷内置电容作为传感器搭建重复定位精度要求为100 nm的实验测试平台;最后实验测试平台测试结果显示,定位精度可达到90 nm,从而验证了该光刻机调平调焦台精度指标分解模型的正确性.

光刻机、调平调焦台、精度指标分解、函数误差原理

45

TN305.7(半导体技术)

2016-04-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

15-18,23

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1004-4507

62-1077/TN

45

2016,45(1)

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