存储芯片测试的研究

摘要：

集成电路的测试最关健的两个方面是快速,准确,但存储器由于容量较大,测试时需对其所有存储单元进行扫描测试,因此消耗时间较多,在现代社会中,随着对存储芯片需求量的增大,测试时间问题也就慢慢地凸显出来,本文就如何优化存储芯片的测试时间进行讨论.

关键词：集成电路测试、存储芯片、分页测试、快速测试

所属期刊栏目：40

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2011-12-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：28-31