10.3969/j.issn.1004-4507.2010.03.011
T2000 SiP测试方案介绍
随着SiP系统集成封装越来越广泛的应用,SiP在ATE上的测试面临诸多挑战.通过各种Module的灵活搭配,ADVANTEST T2000测试系统可以提供针对SiP芯片级封装的各个die/chip的功能特性测试,在一个测试平台上完成整个测试的解决方案.并且T2000架构凭借灵活的开放式框架,丰富的测试资源,高效的并行测试构架,人性化的操作界面,以及先进的测试理念为SiP测试提供了更好的低成本解决方案.
SiP、系统集成封装、T2000
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TN407(微电子学、集成电路(IC))
2010-05-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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