大容量存储器集成电路的测试

摘要：

介绍了有关大容量存储器集成电路测试系统的软件原理和硬件构成,对大容量存储器集成电路的测试方法作了初步探讨,希望对实现实验室精确测试和生产中大批量芯片中测和成品测试有所帮助.

关键词：测试系统、存储器集成电路、块、页

所属期刊栏目：34

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：科技部资助项目国科发计字[2002]450号

在线出版日期：2005-07-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：49-52