基于SSD控制器芯片测试平台转移及测试向量转换的方法

摘要：

随着集成电路测试成本的提高,将芯片从高性能的自动化测试设备(Automation Test Equipment,ATE)向低一级ATE进行转移可以节省相应的测试成本.测试平台转换过程中涉及测试程序的开发和测试向量的转换,将两个测试平台得到的测试数据进行比对,验证了转换后测试程序的有效性与准确性.基于一款高性能的28 nm固态存储硬盘(Solid State Drive,SSD)控制器,测试平台从爱德万(Advantest)的V93K转移至泰瑞达(Teradyne)的J750,同时使用Python脚本进行向量转换和测试数据的比对分析,达到了降低芯片测试成本的目的.

关键词：ATE转移、测试向量转换、测试数据分析

所属期刊栏目：22

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2022-06-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：23-30