FPGA多程序动态老炼系统设计

摘要：

老炼试验可以加速FPGA老化,使FPGA快速进入失效率较低且稳定的偶然失效期,是剔除存在潜在缺陷FPGA电路的重要方法.但是随着FPGA的规模越来越大,传统的单段程序动态老炼无法实现FPGA大部分资源的逻辑翻转,电路潜在缺陷部位无法及时暴露,可能导致缺陷电路异常流出.针对单段程序动态老炼的局限性,设计了一种可循环写入多段老炼程序的多程序动态老炼硬件系统,同时针对该老炼系统开发了 FPGA老炼程序,可显著提高FPGA的老炼覆盖率.

关键词：老炼、FPGA、多程序、覆盖率

所属期刊栏目：22

分类号：TN406(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2022-05-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：68-72