基于数据分析科学降低芯片测试成本

摘要：

随着集成电路的快速发展和工业物联网时代的逐渐到来,高性能、高可靠性的芯片制造成本越来越高.为保证芯片高质量生产,芯片的测试参数需要全覆盖,导致芯片测试所需的时间较长,成本较高.为降低芯片测试的成本,从数据分析的角度出发,就如何在保证产品质量的前提下科学降低芯片测试的时间和成本进行了研究.通过对实际测试数据的统计分析,表明所提方法可有效降低芯片测试的时间和成本.

关键词：晶圆测试;晶圆可接受度测试;成测;数据分析

所属期刊栏目：21

分类号：TN454(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：江苏省科技成果转化高性能实时微处理器系列产品研发及产业化BA2019012

在线出版日期：2022-01-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：31-34