基于MCU的可测性设计与实现

摘要：

随着客户需求的复杂化及先进EDA工具的使用,MCU芯片向高复杂性、高集成度、高性能发展,电路规模越来越大,这使得MCU的可测性设计变得越来越困难.介绍了传统测试结构及其局限性,以及优化后的测试结构及其测试策略,实现了CKS32FOXX芯片的测试向量产生及整体测试.

关键词：MCU芯片、可测性设计、测试资源复用、测试成本、测试方法

所属期刊栏目：21

分类号：TN304.07(半导体技术)

资助基金：江苏省科技成果转化高性能实时微处理器系列产品研发及产业化BA2019012

在线出版日期：2021-03-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：72-76