基于静态随机存取存储器型FPGA的测试技术发展

摘要：

可编程逻辑门阵列(FPGA)技术迅速发展,广泛应用于各种电子系统中,与此同时,对FPGA测试的需求也日益增多.针对FPGA的测试方法和特性进行综述研究,给出了测试对象FPGA的分类,根据FPGA的类型特点说明其测试重点,并着重介绍了目前应用最广泛的基于静态随机存取存储器(SRAM)型FPGA的内部资源结构.重点针对SRAM型FPGA,对相应的现有测试方法进行了分类与特性分析.最后对测试技术的发展方向进行了展望.

关键词：FPGA测试、SRAM型FPGA、内建自测试、应用相关测试

所属期刊栏目：21

分类号：TP331.2;TN47(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金;模拟集成电路重点实验室基金;航空科学基金

在线出版日期：2021-03-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共11页

页码：33-43