10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0102
FPGA潜在缺陷测试技术综述
在FPGA的设计、生产过程中,测试是保证器件质量的关键步骤.针对FPGA典型的潜在缺陷,阐述了主流的FPGA测试方法,对各方法的优缺点做了简要对比和总结.同时提出了对构成FPGA的可编程逻辑资源、互联线资源、端口资源、内嵌核4大模块分别进行测试的分类测试法,分析每个模块的典型缺陷,归纳对应的测试方法.
逻辑资源、互联线资源、端口资源、内嵌核、测试方法
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TN492(微电子学、集成电路(IC))
2021-03-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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