一种用于数字电路单粒子效应试验的系统设计

摘要：

单粒子效应试验是地面评估元器件抗辐射性能的有效方法.随着航天事业的高速发展,宇航元器件需求逐年增大,对其辐射性能评价的单粒子试验越来越频繁.提出一种通用型单粒子效应试验系统,可满足大部分数字电路的单粒子试验评价需求.从系统架构、硬件设计及软件设计几个方面对单粒子效应试验系统的设计方法进行介绍.基于该系统可以方便地进行不同型号数字电路的单粒子效应试验系统开发,缩短系统开发周期,提升效率.

关键词：单粒子效应试验、通用型、数字电路

所属期刊栏目：20

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2020-12-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：51-55