一种面向RISC-V的检查点和回滚恢复容错方法

摘要：

随着特征尺寸的不断减小,CMOS集成电路更容易受到软错误的影响,可靠性设计已成为处理器设计中的重要考虑因素之一.基于对RISC-V特权级别、系统上下文、映射方法的研究,提出了一种面向RISC-V处理器的检查点和回滚恢复方法,并基于此实现了一种面向RISC-V的检查点和回滚恢复容软错误架构.在基于Artix-7开发板实现的e203RISC-V内核中对该容错架构进行了仿真试验.试验结果表明,所提方法可以实现预期的容软错误功能,提高了RISC-V处理器的可靠性.

关键词：软错误、可靠性设计、RISC-V、检查点和回滚恢复

所属期刊栏目：20

分类号：TP302.8(计算技术、计算机技术)

资助基金：中央高校基本科研业务费专项资金资助;江苏省研究生科研与实践创新计划项目;江苏省重点研发计划

在线出版日期：2020-11-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：30-36